光学分解能0.6 μmを実現、半導体レーザーや光ファイバーの近視野測定に対応、NFP（ニアフィールドパターン）測定用ビームプロファイラ販売開始

株式会社光響は、当社が取り扱うビームプロファイラ製品「微小ビーム径測定光学系」シリーズにおいて、半導体レーザーや光ファイバーの出射端近傍でのビームプロファイル（Near Field Pattern：NFP）測定に対応する「NFP測定用ビームプロファイラ（LBP-C05VIS-BE-SP02）」 の販売を開始いたしました。

ビームプロファイラは、レーザーの出射ビームの断面形状や強度分布、ビーム径の変化などを可視化・数値化する測定機器であり、開発・製造・品質管理におけるビーム特性の評価に不可欠です。用途や測定対象の波長、ビーム径、出力レベルに応じた製品選定が必要となります。

当社ではこれまで、標準的なカメラ式ビームプロファイラでは測定が困難な 30 μm以下のビーム径測定 に対応する「微小ビーム径測定光学系」を開発してきました。今回新たにラインアップに加わったNFP測定用ビームプロファイラ（LBP-C05VIS-BE-SP02）は、微小ビーム径測定光学系をベースに、光学分解能は0.6 μm（波長790 nmにおける理論値）を実現し、半導体レーザーや光ファイバーの出射端近傍（Near Field）におけるビーム分布を高分解能で観測可能な設計を採用しています。

当社では、製品の選定や測定環境に合わせた導入提案に対応しており、各種ビームプロファイラや関連オプションを組み合わせた最適な計測ソリューションをご提供いたします。デモ機を用いた検証も可能ですので、ぜひお気軽にお問い合わせください。

■ 製品概要
・製品名：NFP測定用ビームプロファイラ
・型式　： LBP-C05VIS-BE-SP02
・価格　：お問い合わせください　https://www.symphotony.com/laseview_contact/
・納期 ：お問い合わせください　https://www.symphotony.com/laseview_contact/
・URL ：https://www.symphotony.com/products/laseview/near-field-pattern/
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■ お問い合わせ先
株式会社 光響 レーザープロセシング部
担当：滝澤
お問い合わせフォーム：https://www.symphotony.com/laseview_contact/
Tel : 080-8841-1453 （平日9時～18時、土日祝日は除く）
メール：profiler-inquiry@symphotony.com

■ 製品イメージ

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波長：343 nm、 集光径(1/e2 )：14.6 μm

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(上) NFP測定用ビームプロファイラ (LBP-C05VIS-BE-SP02)
(下) 微小ビーム径測定光学系を用いたビームプロファイラ計測イメージ

■ 主要仕様
弊社技術資料公開サイトから無料ダウンロード頂けます。
https://www.symphotony.com/products/laseview/bp-technical-sheet/
* 微小ビーム径測定光学系解説ガイド を選択下さい。

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