株式会社　東芝のプレスリリース

【東芝】高低差がナノスケールの極微小な欠陥をワンショットで3D形状に可視化する光学検査技術を開発　－独自の光学機器とアルゴリズムで、半導体製造における極微小な欠陥を1枚の撮像画像から瞬時に識別－

• 発表会社
• 株式会社　東芝

• 配信日時
• 2025-02-26 11:18:07

• カテゴリ
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• 業種
• その他IT・インターネット

• 配信元
• Digital PR Platform