NEC、米国の指紋認証技術ベンチマークテストで第1位を獲得

　NECは6日、米国立標準技術研究所（NIST）が実施した、指紋認証技術のベンチマークテスト（FpVTE2012）において、同社の指紋認証技術が第1位の照合精度を有するとの評価を獲得したと発表した。

　このテストでは、大規模データベースを対象にする「国民ID」や「犯罪捜査」分野での実運用を想定し、警察や政府機関など、異なる組織で採取された指紋画像を対象にしている。また、2003年のテスト開始以来、最大規模である最大500万人規模の大量の指紋データを用いて、検索や本人確認などの精度評価が行われた。NECは平均照合率が99.63%と、参加全18社のうちトップの結果を示した。

　NISTによるコンテストは、ベンダーの認証技術をブラインドテストにより客観的かつ正確に評価しており、米国国土安全保障省、司法省、国防省なども協賛・支援するなど、その評価は世界的にも信頼され高い注目を集めているという。