東大、セシウム花粉による被曝量は無視できるほど小さいとの研究結果

2014年6月26日 22:15

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実際に着用したマスクに付着したスギ花粉(矢印)の光学顕微鏡写真(濾紙上に集めてヨウ素で着色したもの)。左下の白線は100マイクロメートルの大きさを表す(東京大学の発表資料より)

実際に着用したマスクに付着したスギ花粉(矢印)の光学顕微鏡写真(濾紙上に集めてヨウ素で着色したもの)。左下の白線は100マイクロメートルの大きさを表す(東京大学の発表資料より)[写真拡大]

  • 2012年2月19日に実際に被験者が着用したマスクとマスクに付着した放射性セシウム源のイメージングプレート像との合成像と、その部分の拡大写真。各写真の右下の白線は50マイクロメートルの大きさを表す。(東京大学の発表資料より)

 東京大学の桧垣正吾助教は、2012年に飛散した放射性セシウムの量を測定し、その量は砂埃に比べて無視できるほど小さいことを明らかにした。

 福島第一原発の事故以来、放射性セシウムがスギ花粉に吸着して飛散するのではないかと心配されていた。

 今回の研究では、東日本在住の一般市民68名を対象に2012年2月19日~4月14日の8週間に渡ってマスクを装着してもらい、そのマスクに付着した放射線量を計測した。その結果、検出された放射性セシウムが最大であった被験者が1年間に被曝する量を見積もったところ、およそ3.2μSvであった。これは年間の公衆被曝限度1mSvの310分の1である。

 また、被曝の元になった飛散物を詳しく調べたところ、そのほとんどはスギ花粉ではなく砂埃であることも明らかとなっため、砂埃の吸入を防ぐことでさらに内部被曝量は低減することができると考えられる。

 この内容は「Health Physics」に掲載される予定である。

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